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Un diffractomètre RX ainsi qu'un microscope électronique à balayage constituent les deux équipements d'analyse des matériaux.


MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE

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LEO STEREOSCAN 440 

Microscope conventionnel avec filament de tungstène, platine X, Y, Z motorisé, rotation 360°, inclinaison (tilt), détecteurs d’électrons secondaires et rétrodiffusés 4 secteurs, résolution 10 nm, grandissement x 100000 

Sonde Quantax EBSD (Bruker AXS)

Chimi1 Chimi2

Compétences/Application Imagerie Caractérisation chimique semi-quantitative, Traitement d’image pour quantification de phases
Contacts

Emilie Chalmin
MCF Université de Savoie - EDYTEM/LCME
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+33 (0) 4 79 75 88 84
Anne-Lise Develle
Ingénieure d’Etude CNRS EDYTEM
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+33 (0) 4 79 75 87 63
Emilie Planes
MCF Université de Savoie - LEPMI-LMOPS CNRS UMR 5279
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+33 (0) 4 79 75 94 01
Julien Giboz
MCF Université de Savoie - LEPMI-LMOPS CNRS UMR 5279
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+33 (0) 4 79 75 94 33

DIFFRACTOMETRE RX

Générateur INEL XRG-3000 puissance maximale : 3000 W  Tube avec anticathode au Cobalt + monochromateur Silicium plan

Longueur d'onde Kalpha1 du Cobalt : 0,1789 nm Détecteur courbe INEL CPS 120 sur une plage angulaire (en 2 theta) de 120° et résolution théorique (en 2 theta) : 0,29°

Diffraction sur poudre ou sur échantillon massif polycristallin Porte échantillon en transmission ou en réflexion

Chimi3 Chimi4

Compétences/Application identification et analyse quantitative de phases cristallines grande variété de matériaux incluant métaux, minéraux, polymères, céramiques, semi-conducteurs (poudres, films minces, capillaires).


Contacts

Laurent Duclaux
Professeur Université de Savoie – LCME
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+33 (0) 4 79 75 88 05
Emilie Chalmin
MCF Université de Savoie - EDYTEM/LCME
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+33 (0) 4 79 75 88 36

MATERIEL DE PREPARATION DES ECHANTILLONS POUR MEB ET DRX
Métalliseur scancoat Six Microtome LEICA RM2165 Consommables MEB (plot, porte échantillon) Consommables DRX (mortiers, tamis, plot poudres et capillaires

Chimi5 Chimi6 Chimi7

Contacts : +33 (0) 4 79 75 81 06